一种集成电路测试方法.pdf

摘要： ( 19 )中华人民共和国国家知识产权局( 12 )发明专利申请(21)申请号 201610789618 .X(22)申请日 2016 .08 .30(71)申请人张为凤地址 226300 江苏省南通市南通高新区世纪大道266号(72)发明人张为凤　(51)Int .Cl . G01R 31/28(2006 .01) H01L 21/66(2006 .01)(10)申请公布号 CN 10...

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